NS-Micro系列 (顯微鏡集成式膜厚儀) 參考價(jià)：面議
NS-Micro系列是顯微鏡集成式膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。NS-Micro系列 (顯微鏡集成式膜厚儀)在標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡基礎(chǔ)上疊加光譜測(cè)量模塊，能夠?qū)y(cè)量光斑精準(zhǔn)聚焦至1微...
NS-20 非接觸式膜厚儀 參考價(jià)：面議
NS-20 非接觸式膜厚儀是桌面式手動(dòng)膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。在保證整體小巧輕盈的同時(shí)，其準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性絲毫未減。擁有NanoSense系列所有的算法軟件功能，性?xún)r(jià)比...
白光干涉膜厚儀 參考價(jià)：面議
NS-20 AcuiTik 是一款高性?xún)r(jià)比白光干涉膜厚儀，采用垂直入射高穩(wěn)定寬波段光的光學(xué)干涉原理，實(shí)現(xiàn)納米至微米級(jí)透明或半透明膜層厚度、反射率及折射率的測(cè)量。...
膜厚測(cè)量套件 參考價(jià)：面議
NS-OEM系列（膜厚測(cè)量套件）是基于 NS-20 薄膜測(cè)厚儀研發(fā)的。其光學(xué)探頭設(shè)計(jì)得較為緊湊，可適用于多種安裝環(huán)境。為確保測(cè)量精準(zhǔn)，光學(xué)探頭需與樣品表面保持垂...
疏水層納米厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
NS-Touch 疏水層納米厚度測(cè)量?jī)x是一種先進(jìn)的手持式薄膜測(cè)量系統(tǒng)，同時(shí)也用于陽(yáng)極氧化膜厚測(cè)量，具有顯著的價(jià)格優(yōu)勢(shì)，可用于眼鏡片硬化膜厚度測(cè)試。
超薄油膜厚度測(cè)量 參考價(jià)：面議
NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀是一款技術(shù)先進(jìn)的桌面薄膜厚度測(cè)量與分析系統(tǒng)。它具備同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的能力，在測(cè)量高反射率或低反射率的樣本時(shí)極為強(qiáng)...
手持式曲面涂層薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
NS-Touch NIR 手持式曲面涂層薄膜測(cè)厚儀（彎曲表面膜厚儀）是悉識(shí)科技（AcuiTik）推出的一款專(zhuān)為測(cè)量彎曲表面薄膜厚度而設(shè)計(jì)的手持式設(shè)備。
桌面式自動(dòng)膜厚測(cè)量分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
NS-30系列是蘇州悉識(shí)科技有限公司生產(chǎn)的桌面式自動(dòng)膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)，專(zhuān)門(mén)用于Wafer晶圓外延在線(xiàn)膜厚監(jiān)控。
彎曲表面膜厚儀（手持） 參考價(jià)：面議
NS-Touch 彎曲表面膜厚儀（手持）是一種優(yōu)良的手持式薄膜測(cè)量系統(tǒng)，具有顯著的價(jià)格優(yōu)勢(shì)。能夠在幾秒鐘內(nèi)快速分析薄膜的反射光譜數(shù)據(jù)，并分析單層和多層薄膜的厚度...
桌面式自動(dòng)膜厚儀 參考價(jià)：面議
NS-30 系列 (桌面式自動(dòng)膜厚儀)是桌面式自動(dòng)膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。在膜厚測(cè)量的基礎(chǔ)上迭加自動(dòng)測(cè)樣載臺(tái)，能夠?qū)υO(shè)置好的點(diǎn)位進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，并進(jìn)一步生成2D和3D的...
半導(dǎo)體薄膜非接觸測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
NS-30半導(dǎo)體薄膜非接觸測(cè)厚儀是一款基于白光干涉原理的高精度測(cè)量設(shè)備，特別適用于需要自動(dòng)化測(cè)量和精準(zhǔn)厚度分布分析的場(chǎng)景。
悉識(shí)科技 白光干涉膜厚儀 參考價(jià)：面議
悉識(shí)科技 NS-30UV是蘇州悉識(shí)科技有限公司生產(chǎn)的一款國(guó)產(chǎn)白光干涉膜厚測(cè)量?jī)x，可替代KLA白光干涉膜厚儀，采用光學(xué)干涉原理實(shí)現(xiàn)納米至微米級(jí)薄膜厚度的非接觸測(cè)量...
光學(xué)非接觸 手動(dòng)薄膜膜厚測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
悉識(shí)科技 光學(xué)非接觸 手動(dòng)薄膜膜厚測(cè)厚儀AcuiTik白光干涉膜厚測(cè)厚儀NS-20采用垂直入射高穩(wěn)定寬波段光的光學(xué)干涉原理，實(shí)現(xiàn)納米至微米級(jí)透明或半透明膜層厚度...
NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀 參考價(jià)：面議
NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀是一款技術(shù)優(yōu)良的桌面薄膜厚度測(cè)量與分析系統(tǒng)。它具備同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的能力，在測(cè)量高反射率或低反射率的樣本時(shí)極為強(qiáng)...
手動(dòng)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
NS-20/NS-20 Pro桌面式手動(dòng)膜厚儀是桌面式手動(dòng)膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。在保證整體小巧輕盈的同時(shí)，其準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性絲毫未減。擁有NanoSense系列所有的...
悉識(shí)科技 非接觸桌面式自動(dòng) 薄膜膜厚測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
悉識(shí)科技 非接觸桌面式自動(dòng) 薄膜膜厚測(cè)厚儀AcuiTik白光干涉膜厚測(cè)厚儀NS-30采用垂直入射高穩(wěn)定寬波段光的光學(xué)干涉原理，實(shí)現(xiàn)納米至微米級(jí)透明或半透明膜層厚...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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